SEM4000是一款分析型热场发射扫描电子显微镜，配备了高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪。三级磁透镜设计，束流大且连续可调，在EDS、EBSD、WDS等应用上具有明显优势。支持低真空模式，可直接观察导电性弱或不导电样品。标配的光学导航模式，以及直观的操作界面，让您的分析工作倍感轻松。
*低真空模式
高分辨率
束流连续可调
*1min内快速换样
三级磁透镜
无漏磁物镜
配备高亮度、长寿命的肖特基场发射电子枪
分辨率高，30 kV下优于1 nm的极限分辨率
三级磁透镜设计，束流可调范围大
*低真空模式，以及高性能的低真空二次电子探测器，可观察导电性弱或不导电样品
无漏磁物镜设计，可直接观察磁性样品
标配的光学导航模式，中文操作软件，让分析工作更轻松
PA-玻纤复合材料
加速电压：10 kV / 放大倍率：×500
二氧化硅微球
加速电压：10 kV / 放大倍率：×80000
金属断口
加速电压：15 kV / 放大倍率：×5000
金属微观组织（铝铜焊接件）
加速电压：20 kV / 放大倍率：×10000
水菜花花粉
加速电压：10 kV / 放大倍率：×50000
钛酸锶钡陶瓷
加速电压：10 kV / 放大倍率：×10000
钛合金
加速电压：10 kV / 放大倍率：×5000
钛合金
加速电压：10 kV / 放大倍率：×10000
| 关键参数 | 分辨率 | 1 nm @ 30 kV，SE |
| 0.9 nm @ 30 kV, STEM | ||
| 加速电压 | 200 V ~ 30 kV | |
| 放大倍率 | 1 ~ 1,000,000 x | |
| 电子枪类型 | 肖特基场发射电子枪 | |
| 样品室 | 真空系统 | 全自动控制 |
| 低真空模式（选配） | 最大180Pa | |
| 摄像头 | 双摄像头（光学导航+样品仓内监控） | |
| 行程 | X：120 mm | |
| Y：115 mm | ||
| Z：50 mm | ||
| T: -10°~ +90° | ||
| R: 360° | ||
| 探测器和扩展 | 标配 | 侧向低角度电子探测器 |
| 选配 | 低真空二次电子探测器 | |
| 背散射电子探测器 | ||
| STEM自动插入式扫描透射探测器 | ||
| 样品交换仓 | ||
| EDS能谱仪 | ||
| EBSD背散射衍射 | ||
| EBIC电子束感生电流 | ||
| CL阴极荧光 | ||
| 高低温原位拉伸台 | ||
| 纳米机械手 | ||
| 大图拼接 | ||
| 轨迹球&旋钮控制板 | ||
| 软件 | 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows | |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 | |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
