DB550 是一款追求极致产出效能的纳米分析工具。它采用低电压高分辨电子镜筒与超级减速方案， 在极低电压下仍能保持亚纳米级成像解析。 核心升级的新一代 “承影 2.0” 离子镜筒， 以更优的低压分辨率与大束流表现，优化纳米加工的速率。 集成式的硬件体系与智能软件算法， 为您打造优雅全能的微纳分析与加工中心， 显著提升产出效率。
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| 电子束系统 | 电子枪类型 | 高亮度肖特基场发射电子枪 |
| 分辨率 |
1.4 nm@1 kV，0.9 nm@15 kV 1.3 nm @ 1 kV（with TD）， 1.9 nm@200 V（with TD）， |
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| 加速电压 | 20 V ~ 30 kV | |
| 离子束系统 | 离子源类型 | 液态镓离子源 |
| 分辨率 |
2.5 nm@30 kV 100 nm@1 kV |
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| 加速电压 | 500 V ~ 30 kV | |
| 样品室 | 真空系统 | 全自动控制，无油真空系统 |
| 摄像头 | 三摄像头 | |
| （光学导航+样品仓内监控x2） | ||
| 样品台类型 | 五轴机械优中心样品台 | |
| 样品台行程 | X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mm | |
| T: -38°~70°，R: 360° | ||
| X=150 mm，Y=150 mm，Z=65 mm | ||
| T: -10°~70°，R: 360°（可选） | ||
| 探测器和扩展 | 标配 | 镜筒内电子探测器(Inlens) |
| 旁侧二次电子探测器（ETD） | ||
| 选配 | 插入式背散射电子探测器（BSED） | |
| 插入式扫描透射探测器（STEM） | ||
| 能谱仪（EDS） | ||
| 背散射衍射（EBSD） | ||
| 纳米机械手 | ||
| 气体注入器 | ||
| 等离子清洗 | ||
| 样品交换仓 | ||
| 轨迹球&旋钮控制板 | ||
| 软件 | 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows | |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 | |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
| 电子束系统 | |
| 电子枪类型 | 高亮度肖特基场发射电子枪 |
| 分辨率 | 1.2 nm@15 kV |
| 加速电压 | 20 V ~ 30 kV |
| 离子束系统 | |
| 离子源类型 | 液态镓离子源 |
| 分辨率 | 3 nm@30 kV |
| 加速电压 | 500 V ~ 30 kV |
| 样品室 | |
| 真空系统 | 全自动控制，无油真空系统 |
| 摄像头 | 三摄像头 |
| （光学导航+样品仓内监控x2） | |
| 样品台类型 | 五轴机械优中心样品台 |
| 样品台行程 | X=110 mm，Y=110 mm，Z=65 mm |
| T: -10°~+70°，R: 360° | |
| 探测器和扩展 | |
| 标配 | 镜筒内电子探测器 |
| 旁侧二次电子探测器（ETD） | |
| 选配 | 插入式背散射电子探测器(BSED) |
| 插入式扫描透射探测器（STEM） | |
| 能谱仪（EDS） | |
| 背散射衍射（EBSD） | |
| 纳米机械手 | |
| 气体注入器 | |
| 等离子清洗 | |
| 样品交换仓 | |
| 轨迹球&旋钮控制板 | |
| 软件 | |
| 语言 | 中文 |
| 操作系统 | Windows |
| 导航 | 光学导航、手势快捷导航 |
| 自动功能 | 自动亮度对比度、自动聚焦、自动像散 |
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