· 采用光学编码器与步进马达双重定位技术 ，消除机械回差

· 全谱角度偏差 ≤ ±0.01°

· 国际标样 NIST1976c 验证最强峰重复性 ≤ 0.002°

· 全自动马达驱动切换光路几何，无需更换硬件

· 系统根据扫描角度实时调整狭缝宽度

· 配合 Phi 轴自动旋转样品台 ，有效消除晶粒择优取向影响

· 标配 1D 半导体阵列探测器，支持升级 2D 探测器，轻松应对织构、应力等复杂分析

· 最大计数： ≥6.4 x 10⁸cps

· 自研高压电源，传承成熟技术，最大输出功率 3 kW

· 告别繁琐的手动换样，行业领先的 90 位自动进样器

· 相比手动进样，检测通量提升 100%