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四维扫描透射电子显微术（Four dimensional scanning transmission electron microscopy, 4D STEM）是电子显微学的最前沿方向之一。它通过在样品表面进行二维扫描，并利用像素化探测器同步记录每个扫描点的二维衍射花样，从而形成一个包含实空间与倒空间信息的四维数据块。这一技术不仅突破了传统电镜仅能采集单一散射信号的限制，更实现了对电子与样品相互作用全信号的捕获与解析。

 

借助4D-STEM，研究人员可在同一实验中实现多种高端分析功能，包括虚拟成像、晶体取向与应变分布测绘、电场磁场分布分析（差分相位衬度），甚至通过叠层衍射实现原子级分辨率的重构。它极大拓展了材料显微分析的维度与深度，为纳米科学与材料研究提供了前所未有的强大工具。

 

国仪量子也将在本届电镜年会上，推出4D-STEM解决方案，旨在打破传统成像局限，为您带来前所未有的数据维度和分析深度！

 

 

国仪量子特色4D-STEM解决方案，将紧紧围绕高空间分辨率，多维度分析、低束流损伤、数据灵活性高等特点，为广大用户提供可靠，出色的数据分析手段！ 

 

9月26-30日 武汉

 

2025年全国电子显微学学术年会

 

国仪量子八大电镜解决方案

 

即将发布！

 

填写问卷，会议结束后即可获取方案PDF！