高性能通用型
场发射扫描电子显微镜
SEM4000X

高性能通用型
场发射扫描电子显微镜
SEM4000X

SEM4000X(G2)扫描电镜作为微区分析检测场景的理想选择,在保证稳定运行与便捷操作的基础上,通过集成了多探测器系统与样品减速功能,突破低加速电压下的分辨率限制。在兼顾性能可靠性与使用成本的前提下,为现代材料分析实验室提供可靠的解决方案

电话咨询 立即专家对话

强大的表面解析

低压高分辨形貌表征能力

视场恒定不丢焦

样品表征更精准

多维度扩展生态

可应对多种测样要求

多重安全保障系统

测样更安全

探测器系统

多探测器系统

突破单一信号局限,可实现形貌与成分衬度同屏呈现,帮助用户在单次观测中获取样品的表面结构与材料成分分布特征。

插入式背散射电子探测器

均匀抛光的多晶材料中,背散射电子强度由电子束与晶面取向决定,取向差越大晶粒越亮,可表征晶粒取向分布。

镜筒内电子探测器 (Inlens)

SBA-15分子筛/500 V/未喷金/样品台减速

仓室内二次电子探测器 (ETD)

BN陶瓷纳米片,利用ETD探测器表征片层结构。

插入式扫描透射电子探测器 (STEM)

应用案例

电子半导体

在半导体行业内,制程工艺会伴随各种微观缺陷,为了保障芯片的高良率,会引入专业的微观表征设备进行检测,其中利用扫描电镜进行高分辨形貌分析是不可或缺的排查手段。

SEM4000X/芯片封装截面/10 kV/BSED

SEM4000X/BONDING球/10 kV/BSED

锂电池/新能源材料

在新能源与锂电池制造中,材料的微观缺陷极易引发热失控,为了保障电芯的极致安全与性能,需要利用扫描电镜进行正负极材料和隔膜材料的检测。

SEM4000X/负极材料/5 kV/BSED

SEM4000X/锂电材料/1 kV/ETD

高分子材料

在高分子材料研发与改性中,微观形貌与断口结构直接决定性能,为了探究其内在机理,利用扫描电镜进行低电压形貌观察是非常重要的表征方法。

SEM4000X/纳米纤维/5 kV/ETD

SEM4000X/冷冻传输水凝胶/2 kV/MIX

生命科学

在生命科学中,组织形态与成分的微观结构直接关乎生理演变。借助扫描电镜可深度还原生物样品的微观形貌。

SEM4000X/脑组织半薄切片500nm/2 kV/BSED

SEM4000X/硅藻/5 kV/ETD

金属材料

在金属材料研发与制造中,零部件常遭遇疲劳或腐蚀失效,为了探究其根本原因,需要借助专业的显微结构表征设备进行检测,其中扫描电镜是极为重要的设备之一。

SEM4000X/金属涂层/2 kV/MIX

SEM4000X/金属断口/10 kV/ETD

功能材料与新材料

在功能与新材料的研发中,微观形貌与特殊结构直接决定其最终性能。扫描电镜作为专业表征工具,可以很好的对新材料的微观形貌表征。

SEM4000X/硅球/3 kV/MIX

SEM4000X/陶瓷粉末/1 kV/MIX

解决方案

12英寸晶圆检测

12英寸晶圆扫描电镜广泛应用于半导体行业和科研领域。它配备大尺寸、大行程的样品台(超过300mm行程),具备高分辨率成像能力,可对微观结构进行详细观察和分析,其在半导体制造中用于检测晶圆缺陷,助力工艺优化,实现大尺寸全覆盖无损检测,标配高灵敏度镜筒内探测器,可选配EDS模块,实现形貌、成分等综合分析。

前往下载解决方案

电镜-拉曼联用

  • 信息互补,同步获取
  • 直接对接,紧密关联
  • 精准定位,针对性强
  • 适用范围广,灵活性高
  • 跨平台精准定位
  • 多模态数据融合
  • 灵活扩展性强
  • 高性价比解决方案
前往下载解决方案

冷冻传输电镜

高分辨形貌表征,保持样品原始状态,不皱缩,不变形,机械损伤小。冷冻制样过程无需化学固定和脱水,样品处理步骤减少,降低人为误差。不仅适用于生物样品,还适用于液体、半液体、和电子束敏感样品的观察。

前往下载解决方案

体电镜

国仪量子vEM解决方案是一套面向细胞、组织等大尺度生物样品的三维结构与动态信息获取的平台型方案,实现了从数据采集到三维重构的全流程闭环。可提供多条技术路线,可根据需求灵活选择,配套多语言界面自动化工作流及集成式生物AI算法,让体电镜操作“开箱即用”。

前往下载解决方案

原位加热芯片

  • 控温精度高,温度均匀性好
  • 红外辐射少,高温下分析更稳定
  • 温控范围广,室温~1100℃
  • 可兼容国仪SEM,FIB,进行原位EDS,EBSD测试
前往下载解决方案

原位力学

在纳米精度下实时捕捉材料受热(-170~1200℃)或受力时的微观演变:晶界滑移、裂纹扩展、相变轨迹,突破传统静态表征局限。同步关联温度-应力-结构响应(如高温蠕变中位错增殖、拉伸下界面脱粘),揭示材料在真实服役环境中的失效机制。为航空热障涂层脱落、柔性电极断裂、生物植入物腐蚀等场景提供微观级失效证据,加速高性能材料设计与寿命预测。

  • 动态高分辨观测
  • 多场耦合关联
  • 工业-科研双驱
前往下载解决方案

8英寸晶圆全尺寸加工

国仪量子vEM解决方案是一套面向细胞、组织等大尺度生物样品的三维结构与动态信息获取的平台型方案,实现了从数据采集到三维重构的全流程闭环。可提供多条技术路线,可根据需求灵活选择,配套多语言界面自动化工作流及集成式生物AI算法,让体电镜操作“开箱即用”。

前往下载解决方案

产品参数

关键参数:电子枪类型肖特基场发射电子枪
分辨率0.7 nm @ 15 kV
1.1 nm @ 1 kV
1.9 nm @ 500 V
加速电压20 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 2,500,000x
位移台(大行程可选):位移台类型五轴机械优中心位移台
探测器镜筒内电子探测器(Inlens)
旁侧电子探测器 (ETD)
插入式背散射电子探测器 (BSED)
插入式扫描透射电子探测器 (STEM)
能谱仪 (EDS)
背散射衍射 (EBSD)
扩展样品台减速模式
低真空模式
样品交换仓
旋钮板&轨迹球
*可接受微定制服务● 标配 ○ 选配
产品参数

    高性能通用型
场发射扫描电子显微镜
SEM4000X

高性能通用型
场发射扫描电子显微镜
SEM4000X

SEM4000X(G2)扫描电镜作为微区分析检测场景的理想选择,在保证稳定运行与便捷操作的基础上,通过集成了多探测器系统与样品减速功能,突破低加速电压下的分辨率限制。在兼顾性能可靠性与使用成本的前提下,为现代材料分析实验室提供可靠的解决方案

强大的表面解析

低压高分辨形貌表征能力

视场恒定不丢焦

样品表征更精准

多维度扩展生态

可应对多种测样要求

多重安全保障系统

测样更安全

探测器系统

多探测器系统

突破单一信号局限,可实现形貌与成分衬度同屏呈现,帮助用户在单次观测中获取样品的表面结构与材料成分分布特征。

插入式背散射电子探测器

均匀抛光的多晶材料中,背散射电子强度由电子束与晶面取向决定,取向差越大晶粒越亮,可表征晶粒取向分布。

镜筒内电子探测器 (Inlens)

SBA-15分子筛/500 V/未喷金/样品台减速

仓室内二次电子探测器 (ETD)

BN陶瓷纳米片,利用ETD探测器表征片层结构。

插入式扫描透射电子探测器 (STEM)

SBA-15分子筛/500 V/未喷金/样品台减速

应用案例

电子半导体

在半导体行业内,制程工艺会伴随各种微观缺陷,为了保障芯片的高良率,会引入专业的微观表征设备进行检测,其中利用扫描电镜进行高分辨形貌分析是不可或缺的排查手段。

SEM4000X/芯片封装截面/10 kV/BSED

SEM4000X/BONDING球/10 kV/BSED

锂电池/新能源材料

在新能源与锂电池制造中,材料的微观缺陷极易引发热失控,为了保障电芯的极致安全与性能,需要利用扫描电镜进行正负极材料和隔膜材料的检测。

SEM4000X/负极材料/5 kV/BSED

SEM4000X/锂电材料/1 kV/ETD

高分子材料

在高分子材料研发与改性中,微观形貌与断口结构直接决定性能,为了探究其内在机理,利用扫描电镜进行低电压形貌观察是非常重要的表征方法。

SEM4000X/纳米纤维/5 kV/ETD

SEM4000X/冷冻传输水凝胶/2 kV/MIX

生命科学

在生命科学中,组织形态与成分的微观结构直接关乎生理演变。借助扫描电镜可深度还原生物样品的微观形貌。

SEM4000X/脑组织半薄切片500nm/2 kV/BSED

SEM4000X/硅藻/5 kV/ETD

金属材料

在金属材料研发与制造中,零部件常遭遇疲劳或腐蚀失效,为了探究其根本原因,需要借助专业的显微结构表征设备进行检测,其中扫描电镜是极为重要的设备之一。

SEM4000X/金属涂层/2 kV/MIX

SEM4000X/金属断口/10 kV/ETD

功能材料与新材料

在功能与新材料的研发中,微观形貌与特殊结构直接决定其最终性能。扫描电镜作为专业表征工具,可以很好的对新材料的微观形貌表征。

SEM4000X/硅球/3 kV/MIX

SEM4000X/陶瓷粉末/1 kV/MIX

解决方案

12英寸晶圆检测

12英寸晶圆扫描电镜广泛应用于半导体行业和科研领域。它配备大尺寸、大行程的样品台(超过300mm行程),具备高分辨率成像能力,可对微观结构进行详细观察和分析,其在半导体制造中用于检测晶圆缺陷,助力工艺优化,实现大尺寸全覆盖无损检测,标配高灵敏度镜筒内探测器,可选配EDS模块,实现形貌、成分等综合分析。

前往下载解决方案

电镜-拉曼联用

  • 信息互补,同步获取
  • 直接对接,紧密关联
  • 精准定位,针对性强
  • 适用范围广,灵活性高
  • 跨平台精准定位
  • 多模态数据融合
  • 灵活扩展性强
  • 高性价比解决方案
前往下载解决方案

冷冻传输电镜

高分辨形貌表征,保持样品原始状态,不皱缩,不变形,机械损伤小。冷冻制样过程无需化学固定和脱水,样品处理步骤减少,降低人为误差。不仅适用于生物样品,还适用于液体、半液体、和电子束敏感样品的观察。

前往下载解决方案

体电镜

国仪量子vEM解决方案是一套面向细胞、组织等大尺度生物样品的三维结构与动态信息获取的平台型方案,实现了从数据采集到三维重构的全流程闭环。可提供多条技术路线,可根据需求灵活选择,配套多语言界面自动化工作流及集成式生物AI算法,让体电镜操作“开箱即用”。

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原位加热芯片

  • 控温精度高,温度均匀性好
  • 红外辐射少,高温下分析更稳定
  • 温控范围广,室温~1100℃
  • 可兼容国仪SEM,FIB,进行原位EDS,EBSD测试
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原位力学

在纳米精度下实时捕捉材料受热(-170~1200℃)或受力时的微观演变:晶界滑移、裂纹扩展、相变轨迹,突破传统静态表征局限。同步关联温度-应力-结构响应(如高温蠕变中位错增殖、拉伸下界面脱粘),揭示材料在真实服役环境中的失效机制。为航空热障涂层脱落、柔性电极断裂、生物植入物腐蚀等场景提供微观级失效证据,加速高性能材料设计与寿命预测。

  • 动态高分辨观测
  • 多场耦合关联
  • 工业-科研双驱
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8英寸晶圆全尺寸加工

国仪量子vEM解决方案是一套面向细胞、组织等大尺度生物样品的三维结构与动态信息获取的平台型方案,实现了从数据采集到三维重构的全流程闭环。可提供多条技术路线,可根据需求灵活选择,配套多语言界面自动化工作流及集成式生物AI算法,让体电镜操作“开箱即用”。

前往下载解决方案

产品参数

关键参数:电子枪类型肖特基场发射电子枪
分辨率0.7 nm @ 15 kV
1.1 nm @ 1 kV
1.9 nm @ 500 V
加速电压20 V ~ 30 kV
放大倍率1 ~ 2,500,000x
位移台(大行程可选):位移台类型五轴机械优中心位移台
探测器镜筒内电子探测器(Inlens)
旁侧电子探测器 (ETD)
插入式背散射电子探测器 (BSED)
插入式扫描透射电子探测器 (STEM)
能谱仪 (EDS)
背散射衍射 (EBSD)
扩展样品台减速模式
低真空模式
样品交换仓
旋钮板&轨迹球
*可接受微定制服务● 标配 ○ 选配
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